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产品详情
SNJ54BCT8244AJT
IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 24-CDIP
部件编号:
SNJ54BCT8244AJT
替代型号:
制造商:
Texas Instruments
类别:
Integrated Circuits (ICs)
>
Logic
>
Specialty Logic
>
描述:
IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 24-CDIP
RoHS:
YES
:
SNJ54BCT8244AJT
SNJ54BCT8244AJT 规格
安装类型:
Through Hole
零件状态:
Active
工作温度:
-55°C ~ 125°C
位数:
8
电源电压:
4.5V ~ 5.5V
供应商器件封装:
24-CDIP
封装 / 外壳:
24-CDIP (0.300", 7.62mm)
逻辑类型:
Scan Test Device with Buffers
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